薄膜测厚仪-东莞市金久自动化科技有限公司

电容接触式圆盘测厚仪
环形扫描测量：区别于常规的单点或局部测量方式，它能够围绕薄膜进行环形扫描测量。这种方式可以获取薄膜圆周方向上多个位置的厚度数据，全面且细致地反映薄膜厚度的分布情况，避免因局部测量导致的误差和遗漏，提供更准确、完整的薄膜厚度信息。
电容非接触式圆盘测厚仪
环形扫描测量：区别于常规的单点或局部测量方式，它能够围绕薄膜进行环形扫描测量。这种方式可以获取薄膜圆周方向上多个位置的厚度数据，全面且细致地反映薄膜厚度的分布情况，避免因局部测量导致的误差和遗漏，提供更准确、完整的薄膜厚度信息。
X光圆盘测厚仪
环形扫描测量：区别于常规的单点或局部测量方式，它能够围绕薄膜进行环形扫描测量。这种方式可以获取薄膜圆周方向上多个位置的厚度数据，全面且细致地反映薄膜厚度的分布情况，避免因局部测量导致的误差和遗漏，提供更准确、完整的薄膜厚度信息。
横扫测厚仪
快速扫描测量：能够在短时间内对薄膜进行横向扫描测量。通过快速移动测量探头或采用扫描技术，可一次性获取薄膜横向多个位置的厚度数据，大大提高了测量效率，满足大规模生产中的快速检测需求。高精度测量：运用先进的测量技术和高精度传感器，具备出色的测量精度。可以精确到微米级别，能够精准检测出薄膜厚度的微...